美國博曼（Bowman）是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)和先進(jìn)的軟件系統(tǒng)，可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí)，博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金（HEAs）。

博曼（Bowman）是一家集設(shè)計(jì)，研發(fā)和制造XRF鍍層測(cè)量系統(tǒng)的專業(yè)制造商。同時(shí)，博曼XRF系統(tǒng)在中國，日本，韓國，印度，菲律賓，德國，意大利等海外市場(chǎng)也擁有廣泛且忠實(shí)的用戶群。

博曼XRF射線裝置利用X射線熒光原理測(cè)量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊，產(chǎn)生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。

能量分辨率、檢測(cè)效率和魯棒性是與檢測(cè)器相關(guān)的三個(gè)因素。 能量分辨率是分離具有小能量差的兩個(gè)光子的能力。 檢測(cè)效率是指 X 射線記錄的效率。 所有 Bowman XRF 系統(tǒng)都使用硅漂移探測(cè)器的先進(jìn)固態(tài)探測(cè)器技術(shù)。

G系列XRF是實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線的理想選擇，特別是在用戶擁有：

• 預(yù)留擺放空間小
• 預(yù)算有限
• 優(yōu)先使用電動(dòng)Z軸進(jìn)行“自下而上”操作
• 需要快速，輕松地定位較小的樣品
• 需要符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• STM B568 和 ISO 3497
• 級(jí)舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎(jiǎng)勵(lì)！
• 符合RoHS要求

B系列可滿足以下類型用戶的需求：

• 測(cè)試量要求相對(duì)較低
• 較大的樣品，每個(gè)零件需要一個(gè)測(cè)試位置
• 大型線路板鍍層的抽檢
• 預(yù)算限制，可以選擇以后升級(jí)組件
• 保證符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升級(jí)舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎(jiǎng)勵(lì)！獎(jiǎng)獎(jiǎng)勵(lì)！

K 系列 XRF *適合有以下要求的客戶：

• 保證符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• **的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)：輕松訪問、可編程載物臺(tái)、靈活的行程
• 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 標(biāo)準(zhǔn)
• RoHS 能力

O系列可滿足以下類型用戶的需求：

• 極小的樣品，如半導(dǎo)體，連接器或PCB
• 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置
• 需要測(cè)量非常薄的涂層（<100nm）
• 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量（1-5秒）
• 保證符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升級(jí)舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎(jiǎng)勵(lì)！

M系列可滿足以下類型用戶的需求：

• 非常小的樣品，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體，連接器或PCB領(lǐng)域
• 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置
• 非常薄的涂層（<100nm）
• 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量（1-5秒）
• 保證符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升級(jí)舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎(jiǎng)勵(lì)！

W系列Micro XRF是*理想的選擇公司：

• 需要檢測(cè)晶圓，引線框架，PCBs
• 需要快速測(cè)量多個(gè)樣品的多個(gè)點(diǎn)
• 期望在多個(gè)樣品上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量
• 需要符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升級(jí)舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎(jiǎng)勵(lì)！