HORIBA堀場(chǎng)集團(tuán)向各行業(yè)領(lǐng)域提供高品質(zhì)的分析與測(cè)試儀器，49家分公司遍布全球27個(gè)國(guó)家。
我們的業(yè)務(wù)涉及汽車測(cè)試、科學(xué)儀器、過(guò)程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導(dǎo)體儀器等。我們已在全球市場(chǎng)展示出自己的優(yōu)勢(shì)，尤其在汽車排放和煙道氣測(cè)量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質(zhì)控以及臨床診斷等領(lǐng)域。過(guò)去幾年來(lái)，我們?nèi)〉昧碎L(zhǎng)足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測(cè)量業(yè)務(wù)為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻(xiàn)，并為解決能源問(wèn)題助一臂之力。我認(rèn)為正是這種自豪感促使我們提供更具競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品。
擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個(gè)更加令人滿意的人生。我們將更加快樂(lè)過(guò)好每**的愿望融入企業(yè)哲學(xué)，這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來(lái)一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場(chǎng)人（這樣稱呼的原因是我們把堀場(chǎng)集團(tuán)的所有員工都看成是一家人）是我們企業(yè)發(fā)展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學(xué)，并在日常工作和生活中很好地貫徹。
我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會(huì)做出貢獻(xiàn)。
XploRA Nano
納米拉曼光譜儀
這是一套基于業(yè)界**的掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。
XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊、全自動(dòng)、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實(shí)了的經(jīng)濟(jì)適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實(shí)現(xiàn)TERS成像。
多樣品分析平臺(tái)
宏觀、微觀和納米尺度的測(cè)量可以在同一個(gè)平臺(tái)上進(jìn)行
簡(jiǎn)單易用
全自動(dòng)操作，在幾分鐘內(nèi)即可開(kāi)始測(cè)量，而不是幾小時(shí)！
真正的共聚焦
高空間分辨率，自動(dòng)樣品臺(tái)，全顯微鏡可視化。
高收集效率
頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測(cè)都可以獲得高分辨和高通量測(cè)量同區(qū)域和針尖增強(qiáng)光譜測(cè)量（TERS和TEPL)
高光譜分辨率
高光譜分辨能力，多光柵自動(dòng)切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。
高空間分辨率
針尖增強(qiáng)的納米級(jí)光譜分辨率（優(yōu)于10nm）
豐富的光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）
多技術(shù)/多環(huán)境
結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強(qiáng)大的軟件即可對(duì)兩臺(tái)儀器進(jìn)行完全控制，SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨(dú)立操作。
堅(jiān)固性/穩(wěn)定性
高共振頻率AFM掃描器，遠(yuǎn)離噪音干擾！高性能表現(xiàn)，無(wú)需主動(dòng)隔振系統(tǒng)。
SmartSPM掃描器和基座
閉環(huán)平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開(kāi)）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關(guān)閉）；Z<0.04 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開(kāi)）
高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自動(dòng)趨近：XYZ數(shù)字閉環(huán)控制，Z向馬達(dá)趨近距離18mm
樣品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm
樣品定位：自動(dòng)樣品臺(tái)范圍：5 mm x 5 mm
定位精度：1μm
AFM測(cè)試頭
激光波長(zhǎng)：1300nm（光譜檢測(cè)器無(wú)干擾）
激光準(zhǔn)直：全自動(dòng)懸臂—光電二極管激光準(zhǔn)直
探針通道：為外部操作和探針提供自由通道
SPM測(cè)量模式
標(biāo)準(zhǔn)模式：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式（LFM）、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式（MFM）、開(kāi)爾文探針模式（表面電勢(shì)，SKM，KPFM）、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式（EFM）、力曲線測(cè)量、壓電響應(yīng)模式（PFM）、納米蝕刻、納米操縱
升級(jí)模式：溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測(cè)量等
光譜模式
共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像
針尖增強(qiáng)拉曼光譜（AFM，STM等）
針尖增強(qiáng)熒光
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)
導(dǎo)電力AFM（選購(gòu)）
電流范圍：100fA~10μA;三檔量程自動(dòng)切換（1 nA, 100 nA 和 10 μA）
光路耦合通道
頂部和側(cè)向能夠同時(shí)使用消色差物鏡：從頂部或側(cè)向*高可用100X，NA0.7物鏡；可同時(shí)使用20倍和100倍
長(zhǎng)期光譜激光穩(wěn)定對(duì)準(zhǔn)的閉環(huán)壓電物鏡掃描器：20μm x 20μm x 15μm；
分辨率：1nm
光譜儀
全自動(dòng)緊湊型XploRA Plus顯微光譜儀，可獨(dú)立使用顯微拉曼光譜儀
波長(zhǎng)范圍：75cm-1至4000 cm-1
光柵：四光柵自動(dòng)切換(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)
自動(dòng)化：全自動(dòng)，軟件控制操作
檢測(cè)器
全光譜范圍CCD和EMCCD檢測(cè)器。
光源
典型波長(zhǎng)：532nm、638nm、785nm；其它波長(zhǎng)可根據(jù)需求提供
自動(dòng)化：全自動(dòng)，軟件控制操作
軟件
集成軟件包，包括全功能SPM、光譜儀和數(shù)據(jù)采集控制、光譜和SPM數(shù)據(jù)分析和處理套件，包括光譜擬合、去卷積和濾波，可選模塊包括單變量和多變量分析套件（PCA、MCR、HCA、DCA），顆粒檢測(cè)和光譜搜索功能。
