HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器，49家分公司遍布全球27個國家。
我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢，尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來，我們取得了長足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻，并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產品。
擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業(yè)哲學，這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人（這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人）是我們企業(yè)發(fā)展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學，并在日常工作和生活中很好地貫徹。
我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會做出貢獻。
拉曼成像和光譜儀
顯微拉曼光譜大家族
HORIBA Scientific在拉曼光譜領域有超過50 年的專業(yè)經驗。拉曼光譜可以對固體、粉末、氣體進行快速無損的化學分析，今天，拉曼光譜被應用到各個領域，從基礎研究到應用解決方案。
我們提供完整的拉曼解決方案，可應用于分析測量、研究級拉曼、紫外拉曼、QC/QA和工業(yè)拉曼應用。這些包括拉曼光譜儀，聯(lián)用拉曼系統(tǒng)(如AFM-Raman)，模塊化拉曼系統(tǒng)，傳輸拉曼分析儀，定制的現(xiàn)場過程拉曼光譜儀，以及用于大批量OEM制造商的微型化拉曼儀器。我們的拉曼光譜儀器被用于世界各地的大學、研究實驗室和要求苛刻的行業(yè)，生產線遍布全球，并以：
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通過穩(wěn)健的設計方法獲得穩(wěn)定性/可靠性
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由我們的多項超快成像**功能實現(xiàn)的高性能和速度
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借助我們的LabSpec 軟件套件，易于使用
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改善用戶體驗并在您需要的地方增加自動化，從而節(jié)省時間
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通過將拉曼光譜儀與我們的AFM 技術相結合，可以通過 TERS 實現(xiàn)納米級測量
國內總代華東總辦事處原裝進口國內有售HORIBA堀場納米拉曼光譜儀XploRA Nano 國內各區(qū)域均有售
您理想的實驗室伙伴
這是一套基于業(yè)界**的掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。
XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經得到證實了的經濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實現(xiàn)TERS成像。
多樣品分析平臺
宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行
簡單易用
全自動操作，在幾分鐘內即可開始測量，而不是幾小時！
真正的共聚焦
高空間分辨率，自動樣品臺，全顯微鏡可視化。
高收集效率
頂部和側向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量（TERS和TEPL)
高光譜分辨率
高光譜分辨能力，多光柵自動切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。
高空間分辨率
針尖增強的納米級光譜分辨率（優(yōu)于10nm）
豐富的光學光譜（拉曼和光致發(fā)光）
多技術/多環(huán)境
結合TERS/TEPL化學成像的多模式SPM技術包括AFM、導電和電學模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學環(huán)境。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行完全控制，SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。
堅固性/穩(wěn)定性
高共振頻率AFM掃描器，遠離噪音干擾！高性能表現(xiàn)，無需主動隔振系統(tǒng)。
SmartSPM掃描器和基座
閉環(huán)平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關閉）；Z<0.04 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）
高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自動趨近：XYZ數(shù)字閉環(huán)控制，Z向馬達趨近距離18mm
樣品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm
樣品定位：自動樣品臺范圍：5 mm x 5 mm
定位精度：1μm
AFM測試頭
激光波長：1300nm（光譜檢測器無干擾）
激光準直：全自動懸臂—光電二極管激光準直
探針通道：為外部操作和探針提供自由通道
SPM測量模式
標準模式：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側向力模式（LFM）、力調制模式、磁力顯微鏡模式（MFM）、開爾文探針模式（表面電勢，SKM，KPFM）、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式（EFM）、力曲線測量、壓電響應模式（PFM）、納米蝕刻、納米操縱
升級模式：溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測量等
光譜模式
共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像
針尖增強拉曼光譜（AFM，STM等）
針尖增強熒光
近場光學顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)
導電力AFM（選購）
電流范圍：100fA~10μA;三檔量程自動切換（1 nA, 100 nA 和 10 μA）
光路耦合通道
頂部和側向能夠同時使用消色差物鏡：從頂部或側向*高可用100X，NA0.7物鏡；可同時使用20倍和100倍
長期光譜激光穩(wěn)定對準的閉環(huán)壓電物鏡掃描器：20μm x 20μm x 15μm；
分辨率：1nm
光譜儀
全自動緊湊型XploRA Plus顯微光譜儀，可獨立使用顯微拉曼光譜儀
波長范圍：75cm-1至4000 cm-1
光柵：四光柵自動切換(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)
自動化：全自動，軟件控制操作
檢測器
全光譜范圍CCD和EMCCD檢測器。
光源
典型波長：532nm、638nm、785nm；其它波長可根據(jù)需求提供
自動化：全自動，軟件控制操作
軟件
集成軟件包，包括全功能SPM、光譜儀和數(shù)據(jù)采集控制、光譜和SPM數(shù)據(jù)分析和處理套件，包括光譜擬合、去卷積和濾波，可選模塊包括單變量和多變量分析套件（PCA、MCR、HCA、DCA），顆粒檢測和光譜搜索功能。
