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浙江總供HORIBA堀場在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ
產(chǎn)品型號: UVISEL Plus In-Situ
產(chǎn)品品牌:HORIBA堀場儀器
產(chǎn)品介紹:

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器。我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們取得了長足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。

詳細介紹

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器,49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們取得了長足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產(chǎn)品。 

擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神,以充沛的體力和激情投入到工作中去,譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業(yè)哲學,這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人(這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人)是我們企業(yè)發(fā)展的源泉,他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學,并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會做出貢獻。 

橢圓偏振光譜儀

薄膜表征的有效技術

橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學技術,廣泛應用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合獲得厚度以及光學常數(shù)等。根據(jù)薄膜材料的不同,可測量的厚度從幾個?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測量技術。

橢圓偏振光譜儀可以表征薄膜的一系列特性,如膜厚、光學特性(n,k)、光學帶隙、界面和粗糙度厚度,薄膜組成,膜層均一性,等等。

橢圓偏振光譜適合分析的材料包括半導體、電介質、聚合物、有機物和金屬。也可用于研究固-液或液-液界面。

HORIBA橢圓偏振光譜儀采用新型高頻偏振調制技術,測試過程中無任何機械旋轉。與傳統(tǒng)橢偏儀相比,更快的測試速度、更寬的測量范圍以及更高的表征精度。

UVISEL PLUS橢圓偏振光譜儀//Auto SE - 自動化薄膜測量工具//Smart SE- 功能強大,高性價比橢偏儀//UVISEL 2 VUV

真空紫外橢偏儀

//UVISEL Plus In-Situ

在線監(jiān)控橢偏儀

//大面積成像橢偏儀//在線橢偏儀



浙江總供HORIBA堀場在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ


在線監(jiān)控橢偏儀

UVISEL Plus在線監(jiān)控橢偏儀可以很容易的安裝在各類反應腔(PECVD、MOCVD、磁控濺射、蒸鍍、ALD和MBE),實時監(jiān)控薄膜沉積或刻蝕過程。

UVISEL Plus在線橢偏儀結合了速度快、靈敏度高、動態(tài)范圍寬和準確等優(yōu)點,使其能夠在原子層水平監(jiān)控沉積/刻蝕,即使過程速度比較快也可實現(xiàn)。

采用新型適配器組件可以實現(xiàn)臺式設備和在線系統(tǒng)的切換。

UVISEL Plus在線橢偏儀使用DeltaPsi2軟件驅動,該軟件適用于HORIBA所有橢偏儀。DeltaPsi2具有眾多先進的建模和擬合處理功能,操作界面簡單,可為研究者提供便捷的橢偏分析手段。先進的通訊協(xié)議,TCP/IP和RS232已被設計用于生產(chǎn)環(huán)境和OEM。

  • 高速、準確
  • 完整集成了實時測量、建模和報告軟件包
  • 便于在線和離線間切換

 

可獲得的信息

  • 薄膜厚度
  • 光學常數(shù)(n,k)
  • 材料組成
  • 光譜范圍:190-885 nm,可擴展至 190-2100 nm
  • 光源:75W氙燈或150W氙燈
  • 探測系統(tǒng):單點或實時光譜采集使用高靈敏度,寬動態(tài)范圍的PMT探測器和掃描單色儀,原位監(jiān)控薄膜沉積/蝕刻
  • 光斑尺寸@300:50μm , 100μm & 1mm
  • 機械適配器:CF35或KF40法蘭