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日本LUCEO魯機(jī)歐偏光片POLAX-32NIR
產(chǎn)品型號：蘇州偏光片行業(yè)POLAX-32NIR偏光鏡
產(chǎn)品品牌：LUCEO魯機(jī)歐
產(chǎn)品介紹：

日本LUCEO魯機(jī)歐于 1991 年 2 月 1 日將公司名稱從 Meisho Koki Co.， Ltd. 更改為 Lukeo。 Luqueo 是一個(gè)拉丁詞，意思是發(fā)光、明亮、明確。主要原因是 100 年后它不會(huì)過時(shí)。同時(shí)它也是知識(shí)性的、科學(xué)的和國際化的。這是因?yàn)槔≌Z從公元前 3 ~ 4 世紀(jì)開始使用，并且仍然用作醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、星座等學(xué)術(shù)術(shù)語，以及羅馬天主教會(huì)的官方語言，其作為表達(dá)西歐人共同思想的工具的重要性并沒有改變。
詳細(xì)介紹

日本LUCEO魯機(jī)歐偏光片POLAX-32NIR

LUCEO魯機(jī)歐POLAX-32NIR偏光片

特點(diǎn)
1、多年來，偏光造成了許多廠家的技術(shù)問題，市場已經(jīng)在投入全自動(dòng)列失真檢驗(yàn)器的方面，花費(fèi)了巨大的精力。
2、LSM-9000LE是具有失真和雙折射的雙重特點(diǎn)，相位差的大小和慢軸的方位全自動(dòng)，而且是二次元定量測定裝置。
3、到現(xiàn)在為止，用失真和雙折射的定量進(jìn)行測定，塞拿蒙法使用的目視型的失真檢驗(yàn)器成為主流。4、塞牟蒙法測定者檢光子次，測量部位的亮度*明亮的狀態(tài)與*黑暗的狀態(tài)，從而進(jìn)行相位差的定量檢查方式進(jìn)行測定。但是，過去的目視型，測量環(huán)境和測量者不同，亮度的判斷則產(chǎn)生了偏差。另外，相位差測定精度是目視型相比被改善了，測量部位畫像中的特定的一部分被限定了。5、并且，塞拿蒙法慢軸的方位測量不能，敏銳的顏色法的結(jié)果考慮，推測有我。另外，二維分布來看的話，長時(shí)間數(shù)次測量的結(jié)果映射需要了
6、本裝置，直線偏光板和1/4波片組合構(gòu)成了圓偏振板上試料配置，就可以開始測量。因此，熟練者和初學(xué)者是沒有區(qū)別，簡單的相位差的大小和慢軸的方位的定量測定等。另外，只特定的部位測量的，而是內(nèi)置的CCD相機(jī)使用，每個(gè)像素單位進(jìn)行測定。因此，相位差的大小和慢軸的方位監(jiān)視器上2次元不能顯示，它們分布狀態(tài)一眼就可以掌握。
7、PC連接，所以測量數(shù)據(jù)和觀察圖像記錄容易進(jìn)行
8、高亮度LED光源采用、壽命長、省電。光源的交換相關(guān)維修變得簡易以及成本可以降低。

LSM-9000W  LSM-9000S   LSM-9000LE   LSM-7000LE
LSM-3002   LSM-1000LE  LSM-2100LE   LSM-2200LE
LSM-2300LE  LSM-3101   LSM-4100LE   LSM-4200LE
LSM-4300LE  LSM-4400LELSM-9000LE


POLAX-32NIR 是專為 780nm~830nm 波長范圍開發(fā)的偏振片。
780 nm ~ 830 nm 的波長范圍是可見光偏振片和紅外線偏振片使用區(qū)域之間的波長范圍。 因此，傳統(tǒng)的偏光片在用于可見光時(shí)無法獲得足夠的性能，而在用于紅外線時(shí)，也很難獲得高透射率。
另一方面，這個(gè) 780 nm ~ 830 nm 的波長范圍包括 780 nm 和 830 nm 等波長，這些波長是半導(dǎo)體激光器的光源波長，用戶對在這個(gè)波長范圍內(nèi)具有優(yōu)異性能的偏振片的需求正在增加。
POLAX-32NIR 是由 Lukeo 專有技術(shù)開發(fā)的專用波段偏振器，旨在滿足這些用戶需求。

波長
（nm） 		單透射率 消光比 玻璃基板 外徑
（mm） 		厚度
（mm）
λ＝780 32±3% 10? @780nm BK7 霸王系列 φ10/φ20/φ30 2